ソフトエラーによる多ビットエラーのラッチ間距離依存性の評価
ソフトエラーによる多ビットエラーのラッチ間距離依存性の評価
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软错误引起的多位错误的锁存器间距离依赖性的评估
DOI：
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发表时间：
2012
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小野寺秀俊
中科院分区：
文献类型：
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作者：
古田潤;小林和淑;小野寺秀俊
