繰返し圧縮負荷によるシリコン単結晶中の結晶欠陥集積と疲労亀裂進展の電子顕微鏡解析
繰返し圧縮負荷によるシリコン単結晶中の結晶欠陥集積と疲労亀裂進展の電子顕微鏡解析
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重复压缩加载导致硅单晶晶体缺陷积累和疲劳裂纹扩展的电子显微镜分析
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
神谷 庄司
中科院分区：
文献类型：
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作者：
神谷 庄司
