K. Kamimura: "Preparation and Characterization of SiO_2/ 6H-SiC metal-insulator-semiconductor structure using TEOS"Applied Surface Sience. 184. 346-349 (2001)
K. Kamimura: "Preparation and Characterization of SiO_2/ 6H-SiC metal-insulator-semiconductor structure using TEOS"Applied Surface Sience. 184. 346-349 (2001)
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K. Kamimura：“使用 TEOS 制备和表征 SiO_2/ 6H-SiC 金属-绝缘体-半导体结构”应用表面科学。
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