スピンホール磁気抵抗効果を用いたCr2O3薄膜のネール点検出
スピンホール磁気抵抗効果を用いたCr2O3薄膜のネール点検出
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利用自旋霍尔磁阻效应检测 Cr2O3 薄膜中的尼尔点
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
飯野 達也，森山 貴広，岩城 宏侑，青野 晃，白土 優，小野 輝男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Iino Tatsuya;Moriyama Takahiro;Iwaki Hiroyuki;Aono Hikaru;Shiratsuchi Yu;Ono Teruo;飯野 達也，森山 貴広，岩城 宏侑，青野 晃，白土 優，小野 輝男
