N.Sakai: "High-Resolution Compton Profile of Si Using 29.5 keV Synchrotron-Radiation X-Rays" J.Phys.Soc.Jpn.58. 3270-3279 (1989)
N.Sakai: "High-Resolution Compton Profile of Si Using 29.5 keV Synchrotron-Radiation X-Rays" J.Phys.Soc.Jpn.58. 3270-3279 (1989)
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N.Sakai：“使用 29.5 keV 同步辐射 X 射线对 Si 进行高分辨率康普顿剖面”J.Phys.Soc.Jpn.58。
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