Y. Katano, T. Doi, H. Ohno, K. Yoh: "Surface potential analysis on doping superlattice by electrostatic force microscope"Appl. Surf. Sci.. 188. 399-402 (2002)
Y. Katano, T. Doi, H. Ohno, K. Yoh: "Surface potential analysis on doping superlattice by electrostatic force microscope"Appl. Surf. Sci.. 188. 399-402 (2002)
复制标题
Y. Katano、T. Doi、H. Ohno、K. Yoh：“通过静电力显微镜对掺杂超晶格进行表面电势分析”Appl。
DOI：
--
复制
发表时间：
--
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
