Low-Aware Test for Low-Power Devices
Low-Aware Test for Low-Power Devices
复制标题
低功耗设备的低感知测试
DOI：
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发表时间：
2010
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
X.Wen
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S.Maruyama;et al;X.Wen
