佐々木謙孝: "電子ビームを用いたSiウェーハ表面層評価法の検討"神奈川工科大学研究報告. B-23. 45-48 (1999)
佐々木謙孝: "電子ビームを用いたSiウェーハ表面層評価法の検討"神奈川工科大学研究報告. B-23. 45-48 (1999)
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Kenshitaka Sasaki：“使用电子束的硅晶片表面层评价方法的研究”神奈川技术研究所研究报告B-23（1999）。
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