Quantification of Thermal Interface Resistance Using Atomic Scale Debye-Waller Thermometry
Quantification of Thermal Interface Resistance Using Atomic Scale Debye-Waller Thermometry
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使用原子级德拜-沃勒测温法量化热界面电阻
DOI：
10.1017/s1431927620016499
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发表时间：
2020
影响因子：
2.8
通讯作者：
Hwang, Jinwoo
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
Zhu, Menglin;Hwang, Jinwoo
影响因子：
2.8
作者：
Rezikyan, Aram;Jibben, Zechariah J.;Treacy, Michael M. J.
通讯作者：
Treacy, Michael M. J.