A.Usami,Y.Fujii,H.Fujiwara,T.Sone and T.Wada: "AUTOMATIC DETERMINATION OF IN-DEPTH PROFILES OF RECOMBINATION LIFETIME IN EPITAXIAL Si LAYER WITH P^+-N^--N^+ STRIPE TEST PATTERN DIODES." Mat.Res.Soc.Symp.Proc.225. 265-270 (1991)
A.Usami,Y.Fujii,H.Fujiwara,T.Sone and T.Wada: "AUTOMATIC DETERMINATION OF IN-DEPTH PROFILES OF RECOMBINATION LIFETIME IN EPITAXIAL Si LAYER WITH P^+-N^--N^+ STRIPE TEST PATTERN DIODES." Mat.Res.Soc.Symp.Proc.225. 265-270 (1991)
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A.Usami、Y.Fujii、H.Fujiwara、T.Sone 和 T.Wada：“使用 P^ -N^--N^ 条带测试模式二极管自动确定外延硅层复合寿命的深度分布。
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