LOF法による薄型シリコーン偽装指検出精度評価
LOF法による薄型シリコーン偽装指検出精度評価
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LOF法评估薄硅胶假指检测精度
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
岡本真一良，兼光翼，前田忠彦
中科院分区：
文献类型：
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作者：
松浦 悠之亮;前田 忠彦;岸 俊宏，兼光 翼，前田忠彦;岡本真一良，兼光翼，前田忠彦
