T.Goto and K.Hane: "Tapping mode capacitance microscopy of a nitride-oxide-silicon recording medium" Adrances in Information Storage Systems. (in press) (1998)
T.Goto and K.Hane: "Tapping mode capacitance microscopy of a nitride-oxide-silicon recording medium" Adrances in Information Storage Systems. (in press) (1998)
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T.Goto 和 K.Hane：“氮氧化物硅记录介质的轻敲模式电容显微镜”信息存储系统的进展。
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