M.Kawasaki: "Interface Structure Analysis of Amorphous Semiconductor Hetero-junctions by in situ X-ray Photoelectron Spectroscopy" Physical Review(B). 39. 13316-13322 (1989)
M.Kawasaki: "Interface Structure Analysis of Amorphous Semiconductor Hetero-junctions by in situ X-ray Photoelectron Spectroscopy" Physical Review(B). 39. 13316-13322 (1989)
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M.Kawasaki：“通过原位X射线光电子能谱分析非晶半导体异质结的界面结构”物理评论（B）。
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