イオンビーム及びX線照射に伴う模擬文化財試料の損傷のFT-IR測定
イオンビーム及びX線照射に伴う模擬文化財試料の損傷のFT-IR測定
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FT-IR 测量离子束和 X 射线照射对模拟文化财产样品造成的损坏
DOI：
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发表时间：
2020
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
小栗慶之，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人
中科院分区：
文献类型：
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作者：
羽倉尚人;小栗慶之;渡部 創;青野友哉・永谷幸人・西本豊弘;齋藤努;小栗慶之，長谷川 純，福田一志，羽倉尚人
