準超薄切片のイオンエッチングによる走査電顕試料の作製法とその応用
準超薄切片のイオンエッチングによる走査電顕試料の作製法とその応用
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半超薄切片离子刻蚀制备扫描电镜标本的方法及其应用
DOI：
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发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
久永 豊
中科院分区：
文献类型：
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作者：
長門 俊一;久永 豊
