KEKエレクトロニクスシステムグループにおけるASICの放射線耐性評価への取り組みと現状III
KEKエレクトロニクスシステムグループにおけるASICの放射線耐性評価への取り組みと現状III
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KEK电子系统第三组ASIC抗辐射评估工作及现状
DOI：
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发表时间：
2022
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
坂口将尊,田中真伸,岸下徹一,宮原正也,庄子正剛,濱田英太郎,大島武,武山昭憲,牧野高紘,萩原雅之
中科院分区：
文献类型：
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作者：
坂口将尊,田中真伸,岸下徹一,宮原正也,庄子正剛,濱田英太郎,大島武,武山昭憲,牧野高紘,萩原雅之
