Analysis of Thin-Film MI sensor using the Variations in Impedance and the Magnetic Domain Structure
Analysis of Thin-Film MI sensor using the Variations in Impedance and the Magnetic Domain Structure
复制标题
利用阻抗变化和磁域结构分析薄膜 MI 传感器
DOI：
10.1063/1.4863163
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发表时间：
2014
影响因子：
3.2
通讯作者：
K. Ishiyama
中科院分区：
文献类型：
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作者：
J. W. Shin;Y. Miwa;S. H. Kim;S.Hashi;K. Ishiyama
