K.Yasuda,H.Akamizu,K.Fujimoto,S.Nakata: "Evaluation of Wettability for Microelectronic Materials by Reflow-mode Wetting Balance Test"Proc.26th IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Symposium IEMT 2000,Santa Clara, Oct.2000. 26. 247-
K.Yasuda,H.Akamizu,K.Fujimoto,S.Nakata: "Evaluation of Wettability for Microelectronic Materials by Reflow-mode Wetting Balance Test"Proc.26th IEEE/CPMT International Electronics Manufacturing Technology Symposium IEMT 2000,Santa Clara, Oct.2000. 26. 247-
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K.Yasuda、H.Akamizu、K.Fujimoto、S.Nakata：“通过回流模式润湿平衡测试评估微电子材料的润湿性”Proc.26th IEEE/CPMT 国际电子制造技术研讨会 IEMT 2000，圣克拉拉，10 月
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