連続発振レーザー結晶化poly-Si TFTにおける内部歪と電子移動度の評価

連続発振レーザー結晶化poly-Si TFTにおける内部歪と電子移動度の評価
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连续波激光结晶多晶硅 TFT 内应变和电子迁移率的评估

DOI:
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发表时间:
2010
期刊:
影响因子:
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通讯作者:
小谷光司
小谷光司
中科院分区:
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文献类型:
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作者:
藤井俊太朗;黒木伸一郎;小谷光司

文献摘要

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