Dielectric properties of the interface between Si and SiO2
Dielectric properties of the interface between Si and SiO2
复制标题
Si和SiO2界面的介电性能
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Natori
中科院分区：
文献类型：
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作者：
S. Wakui;J. Nakamura;A. Natori
