A field test architecture for circuits configured on FPGAs
A field test architecture for circuits configured on FPGAs
复制标题
FPGA 上配置的电路的现场测试架构
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Sho Kano and Satoshi Ohtake
中科院分区：
文献类型：
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作者：
佐脇光亮;大竹哲史;南薗隼人，大竹哲史;Sho Kano and Satoshi Ohtake
