Characterization of He Induced Nanostructures Using SEM Image Analysis<sup> </sup>
Characterization of He Induced Nanostructures Using SEM Image Analysis<sup> </sup>
复制标题
使用 SEM 图像分析表征 He 诱导纳米结构<sup> </sup>
DOI：
10.1585/pfr.14.3402049
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发表时间：
2019
影响因子：
0.8
通讯作者：
and N. Ohno
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Tanaka;S. Kajita;and N. Ohno
