Toyohiko Yano 他1名: "Connection Structures between Type-I and Type-II defects in Neutron Irradiated β-Si_3N_4"J. Electron Microscopy. (発表予定).
Toyohiko Yano 他1名: "Connection Structures between Type-I and Type-II defects in Neutron Irradiated β-Si_3N_4"J. Electron Microscopy. (発表予定).
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Toyohiko Yano 和另外 1 人：“中子辐照 β-Si_3N_4 中 I 型和 II 型缺陷之间的连接结构”J. 电子显微镜（待提交）。
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