Development of wavefront sensing in full-field X-ray microscopy
Development of wavefront sensing in full-field X-ray microscopy
复制标题
全视场 X 射线显微镜中波前传感的发展
DOI：
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发表时间：
2021
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
and K. Yamauchi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y. Tanaka;S. Matsuyama;T. Inoue;N. Nakamura;J. Yamada;Y. Kohmura;M. Yabashi;K. Omote;T. Ishikawa;and K. Yamauchi
