Atomic force microscopy analysis of buckling phenomena in metallic thin films on substrates
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DOI：
10.1023/a:1006791520628
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发表时间：
2000-02
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
V. Branger;C. Coupeau;P. Goudeau;B. Boubeker;K. Badawi;J. Grilhé
中科院分区：
文献类型：
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作者：
V. Branger;C. Coupeau;P. Goudeau;B. Boubeker;K. Badawi;J. Grilhé
