High-resolution three-dimensional imaging of a depleted CMOS sensor using an edge Transient Current Technique based on the Two Photon Absorption process (TPA-eTCT)
High-resolution three-dimensional imaging of a depleted CMOS sensor using an edge Transient Current Technique based on the Two Photon Absorption process (TPA-eTCT)
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使用基于双光子吸收过程 (TPA-eTCT) 的边缘瞬态电流技术对耗尽 CMOS 传感器进行高分辨率三维成像
DOI：
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发表时间：
2017
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
I. Vila
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Marcos Fernández García;Javier Sánchez;R. J. Echeverría;M. Moll;R. M. Santos;David Moya;R. P. Pinto;I. Vila
