Surface Potential Measurement of Semiconductors using Kelvin Force Microscopy
Surface Potential Measurement of Semiconductors using Kelvin Force Microscopy
复制标题
使用开尔文力显微镜测量半导体的表面电位
DOI：
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发表时间：
2013
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Makoto ARITA
中科院分区：
文献类型：
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作者：
川口慶雅;池田弘;酒井大輔;原田建治;西井準治;Makoto ARITA
