X-ray Fluorescence Holography Study on Si1-xGex Single Crystal
X-ray Fluorescence Holography Study on Si1-xGex Single Crystal
复制标题
Si1-xGex单晶的X射线荧光全息研究
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
K.Hayashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Y.Kawakita;Y.Kato;S.Takeda;Takeshi Nagase;A.Beraud;Takeshi Nagase;Takeshi Nagase;K.Hayashi
