Study of the surface electromigration of In on Si(111) surfaces by the use of micro-electron-beams
Study of the surface electromigration of In on Si(111) surfaces by the use of micro-electron-beams
复制标题
微电子束研究In在Si(111)表面的表面电迁移
DOI：
10.1016/0039-6028(92)90018-2
复制
发表时间：
1992
期刊：
影响因子：
1.9
通讯作者：
S. Kono
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Anno;N. Nakamura;S. Kono
