半導体中の不純物状態の新たな定量的予測方法
半導体中の不純物状態の新たな定量的予測方法
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半导体杂质态定量预测新方法
DOI：
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发表时间：
2019
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
芳賀太史
中科院分区：
文献类型：
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作者：
斎藤晋;藤本義隆;山下 寛樹;芳賀太史
