Dynamic test compression using statistical coding
Dynamic test compression using statistical coding
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使用统计编码的动态测试压缩
DOI：
10.1109/ats.2001.990273
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发表时间：
2001
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
A. Tamura
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Ichihara;Atsuhiro Ogawa;T. Inoue;A. Tamura
测试压缩/减压是降低测试应用成本的有效方法。在本文中，我们提出了一种测试生成方法，用于通过统计编码获得适合测试压缩的测试模式。通常，ATPG会生成一个包括不计算值的测试模式。在我们的方法中，根据结果测试集中0/1出现的最终概率的估计，指定了这种不保管值。实验结果表明，我们的方法可以生成能够在较小的计算时间内通过统计编码高度压缩的测试模式。
Test compression/decompression is an efficient method for reducing the test application cost. In this paper we propose a test generation method for obtaining test-patterns suitable to test compression by statistical coding. In general, an ATPG generates a test-pattern that includes don't-care values. In our method, such don't-care values are specified based on an estimation of the final probability of 0/1 occurrence in the resultant test set. Experimental results show that our method can generate test patterns that are able to be highly compressed by statistical coding, in small computational time.