K.Oto: "Evaluation of edge channel width by frequency dependence of capacitance minima in quantum Hall regime" Jpn.J.Appl.Phys.34. 4332-4334 (1995)
K.Oto: "Evaluation of edge channel width by frequency dependence of capacitance minima in quantum Hall regime" Jpn.J.Appl.Phys.34. 4332-4334 (1995)
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K.Oto：“通过量子霍尔状态中电容最小值的频率依赖性来评估边缘沟道宽度”Jpn.J.Appl.Phys.34。
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