Measurement of potential drop distribution by scanning the closely coupled probes sensor for sensitive NDE of shallow surface cracks
Measurement of potential drop distribution by scanning the closely coupled probes sensor for sensitive NDE of shallow surface cracks
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通过扫描紧密耦合探针传感器测量电位降分布，以实现浅表面裂纹的灵敏 NDE
DOI：
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发表时间：
2007
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
M. Saka
中科院分区：
文献类型：
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作者：
H. Tohmyoh;T. Suzuki;S. R. Ahmed;M. Saka
