Relation of YSZ stimulation layer crystalline quality with the low-temperature crystallization of the Si film
Relation of YSZ stimulation layer crystalline quality with the low-temperature crystallization of the Si film
复制标题
YSZ刺激层结晶质量与Si薄膜低温结晶的关系
DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
堀田將
中科院分区：
文献类型：
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作者：
スクリーン・ハナ;堀田將
