Optical and Electrical Characterization of Defects in SiGe-on-Insulator

Optical and Electrical Characterization of Defects in SiGe-on-Insulator
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绝缘体上 SiGe 缺陷的光学和电学表征

DOI：
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发表时间：
2009
期刊：
The Electrochemical Society Transactions Vol. 25, No.7
影响因子：
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通讯作者：
H.Yang
H.Yang
中科院分区：
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文献类型：
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作者：
H.Nakashima;D.Wang;H.Yang

文献摘要

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