Improved back-focal-plane interferometry for monitoring nanoparticle position
Improved back-focal-plane interferometry for monitoring nanoparticle position
复制标题
改进的后焦平面干涉测量法用于监测纳米粒子的位置
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Satoru Takahashi
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Shuzou Masui;Yosuke Horita;Masaki Michihata;Kiyoshi Takamasu;Satoru Takahashi
