斜入射X線小角散乱法を用いた表面・界面の分析と接着機構の解明
斜入射X線小角散乱法を用いた表面・界面の分析と接着機構の解明
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使用斜入射X射线小角散射法进行表面/界面分析和粘附机制的阐明
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
高田昌樹
中科院分区：
文献类型：
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作者：
小川紘樹;金谷利治;竹中幹人;宮崎司;下北啓輔;藤原明比古;高田昌樹
