SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造
SEU/SET対策FFを用いた遅延故障テスト容易化スキャン構造
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使用 SEU/SET 对策 FF 扫描结构以促进延迟故障测试
DOI：
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发表时间：
2008
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
伊藤 秀男
中科院分区：
文献类型：
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作者：
池田卓史;難波一輝;伊藤 秀男
