Eelectronic Properties of Single-Walled Carbon Nanotube/100mer Porphyrin System Measured by Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy
Eelectronic Properties of Single-Walled Carbon Nanotube/100mer Porphyrin System Measured by Point-Contact Current Imaging Atomic Force Microscopy
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点接触电流成像原子力显微镜测量单壁碳纳米管/100聚体卟啉体系的电子性质
DOI：
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发表时间：
2006
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Takuji Ogawa
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Hirofumi Tanaka;Takashi Yajima;Masahiro Kawao;Takuji Ogawa
