H.Takahashi: "Diagnosis of Single Gate Delay Faults in Combinational Circuits using Delay Fault Simulation" Proceedings IEEE Seventh Asian Test Symposium. 108-112 (1998)
H.Takahashi: "Diagnosis of Single Gate Delay Faults in Combinational Circuits using Delay Fault Simulation" Proceedings IEEE Seventh Asian Test Symposium. 108-112 (1998)
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H.Takahashi：“使用延迟故障仿真诊断组合电路中的单栅极延迟故障”IEEE 第七届亚洲测试研讨会论文集。
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