Impact of granular work function variation in a gate electrodeon low-frequency noise for fin field-effect transistors
Impact of granular work function variation in a gate electrodeon low-frequency noise for fin field-effect transistors
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栅极电极中粒状功函数变化对鳍式场效应晶体管低频噪声的影响
DOI：
10.7567/apex.8.044201
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发表时间：
2015
影响因子：
2.3
通讯作者：
and M. Masahara
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
T. Matsukawa;K. Fukuda;Y.X. Liu;J. Tsukada;H. Yamauchi;K. Endo;Y. Ishikawa;S. O’uchi;S. Migita;Y. Morita;W. Mizubayashi;H. Ota;and M. Masahara
