Evidence for a trimer in the structure on the Si(111) surface by X-ray diffraction under the nearly normal incidence condition
Evidence for a trimer in the structure on the Si(111) surface by X-ray diffraction under the nearly normal incidence condition
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通过近垂直入射条件下的 X 射线衍射证明 Si(111) 表面结构中存在三聚体
DOI：
10.1016/s0039-6028(87)80330-8
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发表时间：
1987
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
S. Kikuta
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Toshio Takahashi;K. Izumi;T. Ishikawa;S. Kikuta
