Anisotropy and thermal stability of hot-forged BICUTIVOX oxygen ion conducting ceramics
Anisotropy and thermal stability of hot-forged BICUTIVOX oxygen ion conducting ceramics
复制标题
热锻 BICUTIVOX 氧离子导电陶瓷的各向异性和热稳定性
DOI：
10.1016/j.jeurceramsoc.2013.10.016
复制
发表时间：
2014
影响因子：
5.7
通讯作者：
R. Moos
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
P. Fuierer;M. Maier;J. Exner;R. Moos
首次报道了超致密热锻Bi4（MexV1−x）2O11（BIMEVOX）陶瓷的氧离子电导率。开发了一种新的电极制备方法，包括激光开槽，以进行4探针阻抗谱，并以高准确度和精度测定小棒状样品的电导率。热锻（HF）Bi4（Cu0.05Ti0.05V0.90）2O11（BICUTIVOX）陶瓷，具有适度的择优取向（11%），在其导电性方面表现出2倍的各向异性。复阻抗图的砖层模型（BLM）分析表明，在低温γ′相中，晶粒和晶界对总电阻的相对贡献与方向有关。BICUTIVOX的总离子电导率，无论是通过热锻或常规烧结，似乎是稳定的热老化和循环。还报道了多晶BIMEVOX陶瓷的热膨胀各向异性。
The oxygen ion conductivity of ultra dense, hot forged Bi4(MexV1−x)2O11(BIMEVOX) ceramics is reported for the first time. A novel approach to electrode preparation, including laser trenching, was developed to perform 4-probe impedance spectroscopy and determine conductivity of small bar-shaped samples with high accuracy and precision. Hot forged (HF) Bi4(Cu0.05Ti0.05V0.90)2O11(BICUTIVOX) ceramic, with modest preferred orientation (11%), exhibits anisotropy by a factor of 2 in its conductivity. Brick layer model (BLM) analysis of complex impedance plots reveals that the relative contribution of grains and grain boundaries to the total resistance is direction dependent, in the low temperature γ′ phase. The total ionic conductivity of BICUTIVOX, prepared either by hot-forging or conventional sintering, appears to be stable with thermal aging and cycling. Anisotropy in the thermal expansion of polycrystalline BIMEVOX ceramics is also reported.
登录
查看更多内容
Bicuvox 基陶瓷的物理化学和传输性能
DOI：
--
发表时间：
2000
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. Yaremchenko;V. Kharton;E. N. Naumovich;F. Marques
通讯作者：
F. Marques
BIMEVOX 电性能的微观结构依赖性的阻抗研究
DOI：
--
发表时间：
2005
期刊：
影响因子：
--
作者：
C. Pirovano;M. Steil;E. Capoen;G. Nowogrocki;R. Vannier
通讯作者：
R. Vannier
Ti/Cu 取代 Bi4V2O11 的离子电导率和晶体结构关系
影响因子：
4.5
作者：
M. H. Paydar;A. Hadian;G. Fafilek
通讯作者：
G. Fafilek
BIMEVOX.10 材料的氧化还原稳定性（ME=Co、Cu）
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
作者：
M. Guillodo;J. Fouletier;L. Dessemond;P. D. Gallo
通讯作者：
P. D. Gallo
由于 BICUVOX 和 BICOVOX 氧化物离子导体在温度低于 500°C 时逐渐发生相变，导致随时间的退化
DOI：
--
发表时间：
2002
期刊：
影响因子：
--
作者：
A. Watanabe;Kalpataru Das
通讯作者：
Kalpataru Das