SCRIT法を用いたXe同位体標的における電子散乱のルミノシティ測定
SCRIT法を用いたXe同位体標的における電子散乱のルミノシティ測定
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使用 SCIT 方法测量 Xe 同位素靶中电子散射的光度
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
松田一衛,山田耕平,若杉昌徳,渡辺正満
中科院分区：
文献类型：
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作者：
榎園昭智,塚田暁,市川進一,大西哲哉,栗田和好;古小路裕樹 須田利美;玉江忠明,水流輝明,戸ケ崎衛,原雅弘,堀利匡;松田一衛,山田耕平,若杉昌徳,渡辺正満
