GaN/AlN共鳴トンネルダイオードで生じる双安定性の劣化メカニズム
GaN/AlN共鳴トンネルダイオードで生じる双安定性の劣化メカニズム
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GaN/AlN 谐振隧道二极管双稳态退化的机制
DOI：
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发表时间：
2015
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
清水三聡
中科院分区：
文献类型：
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作者：
永瀬成範;高橋言緒;清水三聡
