Evaluation of Fluorinated Self-assembled Monolayer by Using Photoelectron and Near Edge X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopies
Evaluation of Fluorinated Self-assembled Monolayer by Using Photoelectron and Near Edge X-ray Absorption Fine Structure Spectroscopies
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利用光电子和近边 X 射线吸收精细结构光谱评价氟化自组装单分子层
DOI：
10.1541/ieejeiss.134.468
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发表时间：
2014
影响因子：
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通讯作者：
松井 真二
中科院分区：
文献类型：
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作者：
春山 雄一;岡田 真;中井 康喜;石田 敬雄;松井 真二
