Quantitative Evaluation Of Photoexcited Carriers In Semiconductor P-i-n Structures With Time-resolved Terahertz Reflection Spectroscopy
Quantitative Evaluation Of Photoexcited Carriers In Semiconductor P-i-n Structures With Time-resolved Terahertz Reflection Spectroscopy
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利用时间分辨太赫兹反射光谱定量评估半导体 P-i-n 结构中的光激发载流子
DOI：
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发表时间：
2016
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
Masaaki Ashida
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Genki Yamashita;Eiichi Matsubara;Masaya Nagai;Changsu Kim;Hidefumi Akiyama;Yoshihiko Kanemitsu;Masaaki Ashida
