導電性高分子F8T2のFETにおけるゲートバイアスストレス効果のESR観測
導電性高分子F8T2のFETにおけるゲートバイアスストレス効果のESR観測
复制标题
导电聚合物F8T2 FET中栅极偏压应力效应的ESR观察
DOI：
--
复制
发表时间：
2014
期刊：
影响因子：
--
通讯作者：
黒田新一
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
田中久暁;澤田瑛史;黒田新一
