Resistance associated with measurements of capacitance in electric double layers
Resistance associated with measurements of capacitance in electric double layers
复制标题
DOI：
10.1016/j.jelechem.2012.10.004
复制
发表时间：
2013-01
影响因子：
4.5
通讯作者：
K. Aoki;Yongdan Hou;Jingyuan Chen;T. Nishiumi
中科院分区：
文献类型：
--
作者：
K. Aoki;Yongdan Hou;Jingyuan Chen;T. Nishiumi
