走査型電子顕微鏡を用いたセラミックスおよびガラスのナノスケール応力解析
走査型電子顕微鏡を用いたセラミックスおよびガラスのナノスケール応力解析
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使用扫描电子显微镜对陶瓷和玻璃进行纳米级应力分析
DOI：
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发表时间：
2004
期刊：
影响因子：
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通讯作者：
G.PEZZOTTI
中科院分区：
文献类型：
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作者：
Masahiro Kurachi;Hirofumi Matsuda;Takashi Iijima;Hiroshi Uchida;Seiichiro Koda;Takayuki Watanabe;Hiroshi Funakubo;Y.Tamura;齋藤千恵;G.PEZZOTTI
